Misuratore di spessore del rivestimento XRF FT230-Fornitore globale

Sala 1707, 17° piano, Jiayu Building, Red Star Community, Songgang Street, Songgang Town, Bao'an District, Shenzhen

Misuratore di spessore del rivestimento XRF FT230

La progettazione dell'analizzatore XRF desktop FT230 riduce notevolmente il tempo di misurazione. Gli ingegneri Hitachi si sono resi conto che la configurazione dei campioni e la selezione delle formule di misura spesso richiedono molto tempo, quindi hanno introdotto un analizzatore innovativo in grado di "configurarsi" efficacemente, consentendo l'analisi di più parti durante il processo.

Automazione e software innovativi sono le caratteristiche dell'analizzatore FT230. Modulo di riconoscimento intelligente, come Find My Part ™ (Ricerca per i miei campioni) significa che l'operatore ha solo bisogno di caricare i campioni, confermare le parti e FT230 gestirà il resto. Troverà la corretta posizione di misura sul vostro componente - anche su grandi substrati - selezionare il programma di analisi corretto e inviare i risultati al vostro sistema di qualità. Ridurre i tempi e gli errori umani consente di completare più analisi in un lasso di tempo più breve, rendendo le ispezioni più realistiche in ambienti di produzione affollati.

Misuratore di spessore del rivestimento XRF FT230

Ogni parte di FT230 è progettata per ridurre significativamente i tempi di analisi.

La messa a fuoco automatica riduce il tempo di caricamento del campione

Find My Part ™ Esegui automaticamente il riconoscimento intelligente per impostare un programma di misurazione completo

La maggior parte dell'area dello schermo viene utilizzata per visualizzare la vista campione, fornendo visibilità

Il programma diagnostico di autocontrollo assicura la condizione e la stabilità dello strumento

La perfetta integrazione con altri software consente di esportare facilmente i dati

Grazie all'adozione di una nuova interfaccia utente, anche i non professionisti possono utilizzarlo in modo intuitivo e conveniente.

Funzione potente, in grado di misurare contemporaneamente quattro strati di rivestimenti e analizzare substrati

Durevole e duraturo in ambienti di produzione o laboratorio impegnativi

Conforme agli standard ASTM B568 e DIN ISO 3497

Aiutare a soddisfare le specifiche di ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), Stagno ad immersione (IPC-4554) e Argento ad immersione (IPC-4553A)

Specifiche tecniche dell'analizzatore XRF desktop FT230:

analisi	in dettaglio
TUBO RAGGI X	Tungsteno (W) obiettivo tubo a raggi X microfocus, dall'alto al basso tipo di irradiazione Più grande 50 kV, 1000 µ A, 50 W
rivelatore	Alta risoluzione, grande area 50 mm2 SDD
Filtro primario	5 filtri primari (2 tipi di film di alluminio, film di titanio, film di molibdeno, film di nichel)+1 posizione non filtrata
collimatore	4 collimatori, disponibili sia in forma ovale che circolare, con una gamma di dimensioni da 0,01 x 0,25 mm a 1 mm (0,5 x 10 mil a 40 mil)
Intervallo degli elementi	Alluminio (13) - Uranio (92)
Numero di strati	Fino a 5 strati (4 strati più substrato)
Elementi facoltativi	Libera scelta
Compensazione atmosferica	Compensazione automatica della temperatura e della pressione
standard	Il rivestimento di misura della fluorescenza a raggi X dispersivi di energia conforme a ASTM B568 DIN ISO 3497

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